11 февраля состоялся совместный научный семинар кафедры Электроники, Центра экстремальной прикладной электроники (ЦЭПЭ) и АО «ЭНПО СПЭЛС». Мероприятие было посвящено рассмотрению диссертационной работы Московской Юлии Марковны на тему: «Прогнозный контроль радиационной стойкости полузаказных КМОП СБИС на стадии производства».
Исследование выполнено по специальности 2.2.2 — «Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств» (технические науки). Научный руководитель — к.т.н., доцент Бойченко Д.В.
Работа подготовлена на базе Института нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике (ИНТЭЛ) НИЯУ МИФИ при участии АО «ЭНПО СПЭЛС».
Диссертация Юлии Марковны посвящена решению актуальной научной задачи по созданию, развитию и апробации (исследованию и разработке) научно-методического обеспечения (метода, базовых алгоритмов и общей методики) прогнозного контроля радиационной стойкости полузаказных КМОП СБИС (включая моделирование, экспериментальные исследования, а также статистическую обработку результатов) и специализированных технических средств (тестовых схем и автоматизированных комплексов) для контроля и разбраковки производственных партий пластин полузаказных КМОП СБИС по радиационной стойкости на стадии производства.
