Студенты кафедр НИЯУ МИФИ посетили ИНМЭ РАН: экскурсия и стажировка

Поздравляем с началом нового учебного года!
1 сентября, 2024
Памяти Наталии Владимировны Плужниковой
27 ноября, 2024

Студенты кафедр НИЯУ МИФИ посетили ИНМЭ РАН: экскурсия и стажировка

22 ноября, 2024

В ноябре студенты 1–3 курсов кафедр №3, №27 и №67 НИЯУ МИФИ приняли участие в экскурсии и стажировке в Институте нанотехнологий микроэлектроники Российской академии наук (ИНМЭ РАН). Мероприятие состоялось 14, 15 и 21 ноября и включало в себя лекции, практические занятия и знакомство с высокотехнологичным оборудованием.

Лекция и экскурсия: основы микроэлектроники

В рамках экскурсии студентам была представлена вводная лекция, раскрывающая основы проектирования и производства микросхем, а также технологические процессы, используемые в современной микроэлектронике. Особое внимание уделили концепции гетерогенной интеграции, позволяющей совмещать на одной подложке цифровые, высокочастотные и фотонные модули.

Студенты смогли увидеть результаты аналитических методов контроля полупроводниковых структур, включая:

 • электронную и ионную микроскопию,

 • фокусированный ионный пучок,

 • сканирующую зондовую и атомно-силовую микроскопию,

 • просвечивающую двулучевую растровую микроскопию.

Кроме того, участники посетили производственные линии, аналитическое оборудование и дизайн-центр института.

Возможности стажировки

Студентам была предоставлена уникальная возможность прохождения краткосрочной стажировки в лабораториях ИНМЭ РАН. Программа включает:

 1. Работу в Cadence: анализ стабильности операционных усилителей (OpAmp), измерения CMRR, PSRR, Noise, Slew Rate, THD, Compression Distortion Measurements from ADE Explorer Cadence.

 2. Практические измерения: исследование характеристик КМОП ИС (передаточные характеристики операционных усилителей) на зондовой станции или в составе печатной платы. Анализ поперечного сечения РЭМ КМОП с шестью уровнями металлизации.

 3. Освоение технологического маршрута: изучение ключевых этапов литографии: нанесение фоторезиста, экспонирование лучом, проявление, травление и удаление фоторезиста.

Новый шаг в профессиональном развитии

Экскурсия и стажировка в ИНМЭ РАН стали важной частью подготовки студентов к будущей профессиональной деятельности. Участники смогли не только углубить свои знания в области микроэлектроники, но и получить практический опыт работы с современными технологиями. Такие мероприятия помогают укрепить связь между образовательными программами и актуальными потребностями отрасли.

Другие новости